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產(chǎn)品介紹:

硅片缺陷觀測(cè)儀(HS-WDI)，于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無(wú)法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等。

實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；



硅片缺陷觀測(cè)儀-產(chǎn)品特點(diǎn)

■ 適用于對(duì)硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無(wú)法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等；
■ 使硅片缺陷觀察工作簡(jiǎn)單化，準(zhǔn)確化，同時(shí)極大程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度；
■ 實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；
■ 使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術(shù)先進(jìn)，像素較高， 成像清晰 、線條細(xì)膩、色彩豐富；
■ 傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設(shè)計(jì) ；
■ 有效分辨率為 200 萬(wàn)像素；
■ 所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。



硅片缺陷觀測(cè)儀-實(shí)際觀察效果


硅片放大效果100倍

硅片放大效果200倍

硅片放大效果400倍



硅片缺陷觀測(cè)儀-推薦工作條件

■ 溫度：23±2℃
■ 濕度：60%~70%
■ 無(wú)強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近



典型用戶

浙江昱輝、江西塞維ＬＤＫ、常州天合等